主 旨：114年「半導體AI製程檢測尖端技術教師實務研習課程」課程資訊

說 明：

1. 本課程旨在提升教師對半導體先進製程與材料檢測技術的理解與實務應用能力，課程內容深入介紹多項材料分析與檢測技術，包括原子尖端檢測技術（如APT、AFM）、光譜分析（FTIR、Raman）、微觀繞射技術（TEM、SEM、XRD、FIB、Nanoindenter）及表面分析方法（XPS、SIMS、DHEM）等。除了理論講授，課程亦安排分組儀器設備見習，由專業講師實地指導操作，幫助教師建立實作經驗。最後透過產學交流與課程總結，促進知識整合與應用思維，為日後教學與研究奠定堅實基礎。
2. 課程時間：114年8月11日（一）、114年8月12日（二）共計2天，凡符合報名資格且全程參與課程者，將於課程結後擇期核發研習時數證明電子檔。
3. 課程地點：財團法人國家實驗研究院台灣半導體研究中心(新竹市東區展業一路26號)。
4. 報名資格：國內各大專校院及高中職在職教師。
5. 人數上限：實體30人。
6. 報名時間：即日起至114年8月8日(五)17:00止(提前額滿將提前截止)。
7. 報名網址：https://forms.gle/8PnspqomNaWpYLWS8。
8. 活動聯絡人：教育部產學連結執行辦公室-國立臺北科技大學賴專員，連絡電話:(02)2771-2171分機6020，電子郵件：lks@ntut.edu.tw。
9. 檢附114年「半導體AI製程檢測尖端技術教師實務研習課程」課程表與宣傳海報。